1、篩分法古老的粒度檢測方法。成本低廉，對粗顆粒檢測較為直觀。只能測試粒徑10-20微米以上的粉體，不能給出詳盡的粒度分布。    

2、電阻法  電阻法的優點是測量精度高，可以測量單位體積內顆粒數量。不足之處在于量程較小，測量動態范圍也小，只適合窄分布樣品。    

3、圖像法  圖像法的優勢是測量數據詳盡，可以提供顆粒形貌測試分析。配置不同成像系統成本及性能差異巨大，測量動態范圍不足。    

4、動態光散射  動態散射光納米粒度儀的優勢就是測量下限可小于1納米，它的性能優勢在納米及亞微米區間，且不擅長測試寬分布樣品。    

5、靜態光散射  激光粒度分析儀的優勢是量程大、動態測量范圍寬。是當前主流的粒度測試儀，適用于絕大多數的粉體行業。    

6、其它方法  粒度測試的辦法還有很多。例如沉降法、超聲法、透氣法等等。這里就不一一舉例介紹。下面將給大家介紹一下當今應用廣泛的激光粒度儀測試原理。  激光粒度儀原理：  光是一種電磁波，光波在直線傳輸過程中遇到障礙物會發生偏轉。偏轉的角度跟障礙物的幾何尺寸相關。當障礙物（顆粒）幾何尺寸越大時，光波偏轉的角度越小。反之，障礙物（顆粒）的幾何尺寸越小，光波偏轉角度越大。  激光粒度儀是利用光散射效應進行粒度測試的。